澳譜特粒度儀亮相第61屆高博會為高?？蒲凶⑷胄聞恿?/h1>

更新時間：2024-04-16  |  點擊率：5989

2024年4月15日，春意盎然，花團錦簇，第61屆中國高等教育博覽會在福州海峽國際會展中心盛大開幕。在這場匯聚智慧與創(chuàng)新的盛會上，澳譜特科技（上海）有限公司粒度粒形分析儀器，為高?？蒲泻徒虒W(xué)注入了新動力。

 

 

澳譜特科技（上海）有限公司作為粒度粒形分析儀器的專業(yè)生產(chǎn)廠商，始終堅持“品質(zhì)源于專業(yè)，創(chuàng)新構(gòu)建未來”的宗旨。本次博覽會上，澳譜特帶來了Zetatronix系列納米粒度及Zeta電位分析儀以及MorphoVIEW系列圖像粒度粒形分析儀，這些產(chǎn)品憑借優(yōu)良品質(zhì)、簡便操作等特點，吸引了眾多高校師生的關(guān)注。

 

在展會現(xiàn)場，澳譜特工作人員詳細介紹了粒度粒形分析儀器的工作原理、應(yīng)用領(lǐng)域以及優(yōu)勢特點，通過生動的演示和專業(yè)的講解，讓參會觀眾深刻感受到了澳譜特產(chǎn)品的性能和技術(shù)實力。

 

 

 

 

16日上午，在“開創(chuàng)未來：新成果 新技術(shù)”交流活動上，澳譜特科技的應(yīng)用工程師向與會者匯報了“多角度動態(tài)光散射技術(shù)”的最新研究成果，展示了Zetatronix 939SZ納米粒度及Zeta電位分析儀，939SZ以高速數(shù)字相關(guān)器為核心器件，使用多角度動態(tài)光散射技術(shù)測量顆粒粒度，提供與角度無關(guān)的高分辨率顆粒粒度分布，使用電泳光散射技術(shù)測量Zeta電位。智能化軟件自動調(diào)整散射光強，自動優(yōu)化測量參數(shù)，自動剔除異常散射光數(shù)據(jù)，自適應(yīng)截取相關(guān)函數(shù)，以適應(yīng)不同樣品的測量需求。

 

 

 

此次展會，澳譜特科技還展示了MorphoVIEW 系列圖像粒度粒形分析儀，用于測量顆粒粒度與粒形參數(shù)。MorphoVIEW 系列分析儀包括全自動的靜態(tài)圖像和動態(tài)圖像粒度粒形分析儀，能夠快速地提供粒度和粒形信息，對顆粒的宏觀、介觀、微觀形態(tài)特征進行詳細的表征。

 

澳譜特科技始終堅持以客戶需求為導(dǎo)向，不斷創(chuàng)新和進步，為高校科研院所提供更加優(yōu)質(zhì)、高效的產(chǎn)品和服務(wù)。

 

 

 

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